TEL: 010-65121563
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Maps-SEM大场域扫描技术
大视域储集空间类型刻画：可识别孔隙类型，微裂缝发育程度，矿物充填情况等。
有机质、有机/无机孔隙定量表征技术：运用图像学算法，区分有机孔、无机孔，定量计算各类孔隙结构参数。
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